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产品简介:

电子半导体图像法清洁度分析系绞/span>是普勒新世纪实验按照普洛帝分析仪器事业部的规划,亍/span>2001年推向市场的成熟系统仪器:/span>

观察颗粒形貌,还可以得到粒度分布、数量、大小、平均长径比以及长径比分布等,为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段;

电子半导体图像法清洁度分析系绞/span>为一种图像法粒度分布测试以及颗粒型貌分析等多功能颗粒分析系统,该系统包括光学显微镜、图像测诔/span>CCD摄像头、三维立体载物平台、图像法颗粒分析系统软件、电脑、打印机等部分组成;为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段、/span>

产品应用9/span>

航空?/span>航天、电力、石油、化工、交通、港口、冶金、机械、汽车制速/span>、制冷、电子、半导体、工程机械、液压系绞/span>等领埞/span>:/span>

寸/span>各类固体粉末、各类液体中的固体颗粒(非连续相测试(/span>、/span>

执行标准9/span>

0.1~3000μm的超宽范围、超高分辨率、/span>

可根据客户要求,植入相应‛/span>图像法颗粒度”测试和评判标准、/span>

技术参数:

产品型号9/span>PLD-MPCS2.0

订制要求:各类液体检测要求;

测试范围: 1μm-500μm

放大倍数9/span>40X}/span>l000X

zui大分辨:0.1μm

显微镜误差:0.02(不包含样品制备因素造成的误差)

重复性误差:< 5%(不包含样品制备因素造成的误差)

数字摄像夳/span>(CCD)9/span>500丆/span>~1800万像紟/span>

分析项目:粒度分布、长径比分布、圆形度分布筈/span>

自动分割速度9/span>< 1科/span>

分割成功率:> 93%

软件运行环境9/span>Windows 10

接口方式9/span>RS232戕/span>USB方式

粽/span>?/span>度:<±3%典型值;

重合精度9/span>10000粑/span>/mL'/span>5%重合误差);

刅/span>?/span>率:>95%

售后服务:普洛帝中国服务中心/普研检测、/span>


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