一、产品介绌�/strong>
测试对象：偏光片、双折射材料、离型膜、补偿膜

测试项目�?.补偿膜的波长分散性、面内补偿值Re、厚度方向补偿� Rth
三维折射率、全波段透过率、光轴方向、预倾角 Beta：�br style="box-sizing: border-box;"/> 偏光片的透过率（单体、平行、直交）、偏光度，色度（Lab)筈�/p>

2.复合膜的贴合角测试：偏光片与波片（圆偏光）的贴合角�?br style="box-sizing: border-box;"/> 相位差及全波段椭圆率

3.偏光片：吸收轴角度测试，透过轴角度测诔�br style="box-sizing: border-box;"/> 新开发功胼�液晶盒厚、预倾角和扭曲角测试；液晶QWP的等效光轴及相位�?br style="box-sizing: border-box;"/>二、优势特炸�/strong>
1、可以测�?-20000nm的相位差范围
2、可实现超低相位差测试，可解析Re�?纳米以内基膜的残留相位差
3�?nbsp;高相位差测试，可对离型膜、保护膜等高相位差样品进行检浊�br style="box-sizing: border-box;"/> 4、搭载多波段光谱�?检测项目涵盖偏光片各光学性能，高精密高逞�br style="box-sizing: border-box;"/>三、规格参�?/strong>

测量对象	偏光片、相位差膜、光学膜
测试光斑	3mm
轴角度测试范図�/span>	0~180°，�?0°
先�/span>轴角度精�?/span>	根据不同样品� 0.02°~0.05°
吸收轴测试精�?/span>	�?.02°
相位差测量重复�?/span>	�?.08nm
正面位相差读数分辨率	0.001nm
厚度方向标准位相差读 数分辨率	0.001nm
RTH 厚度位相差精�?/span>	1nm
测试波长范围	400nm-800nm（可拓展（�/span>
测试波长*小间隓�/span>	1nm
补偿值测试范図�/span>	0nm - 50000nm
偏光�?/span>	�?.01%
选配	锥光镜头：测试曲面样品；**零度起偏器：测试液晶QWP的等效光轴及相位�?/span>
光谱仪参�?nbsp;	波长精度：�?.2nm
	光谱杂散光：�?.05%�?00nm（�/span>
	信噪比：2000:1
样品尺寸	6 寷�/span>
本体尺寸	1375px✕�/span>� 1125px✕�/span>� 1750px
保修时间	1 平�/span>
增值服加�/span>	新功能免费更�?/span>
注意事项：针对不带雾度及散射的样品，在测试透过率，偏光度等参数 时，可直接测�?*值；在测试带雾度及散射的样品时，由于� 构上无法追加积分球，测得的透过率，偏光度等参数为相对值， 可根据其他仪器（例如分光光度计）去提取公�?/span>