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大面?0mm2 FASTSDD探测?/div>
大面?0mm2 FASTSDD探测器的图片
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品牌9/dt>
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暂无
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美国
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认证信息
高级会员 2平/div> 称: AMPTEK INC.
证:工商信息已核宝br /> 访问量:12461
产品简今/div>

匠心艺术之作

70mm2 FAST SDD

Amptek**研发了一款TO-8封装?0mm2 FAST SDD探测器。它的封装和Amptek其他所有探测器封装一样。这样使?0mm2 FAST SDD成为非常方便的替代品。在同样性能下,计数率是25mm2SDD探测器的3倍、/p>

特?/span>

l70mm2有效面积准直?0mm2

l123ev FWHM @5.9keV

l计数玆2?00?00cps

l高峰背比-26000:1

l前置放大器上升时闳60ns

l窗口:Be(0.5mil) 12.5um或C2(Si3N4)

l抗辐尃/p>

l探头晶体厚度500um

lTO-8封装

l制冷T>85K

l内置多层准直?/p>

应用

l超快台式和手持XRF光谱?/p>

lSEM中EDS系统的样品扫描或测绘样品

l在线过程控制

lX射线分拣朹/p>

lOEM

FASTSDD-70规格参数

通用

探头类型

硅漂移探头(SDD(/span>

探头大小

70mm2准直?0mm2

硅晶体厚?/span>

500um

5.9keV夃sup>55Fe能量分辨玆/span>

峰化时间4us时,分辨率为123-135eV

峰背毓/span>

>20000:1?.9keV?keV计数比)

探头窗口

Be:0.5mil(12.5um)或C2(Si3N4(/span>

准直?/span>

内部多层准直?/span>

电荷灵敏前置放大?/span>

CMOS

增益稳定?/span>

<20ppm>ℂ/span>

外壳尺寸

XR-100FastSDD-70

3.00 x 1.75 x 1.13 in (7.6 x 4.4 x 2.9 cm)

重量

XR-100FastSDD-70

4.4盎司?25g(/span>

总功玆/span>

XR-100FastSDD-70

<2W

质保朞/span>

1平/span>

使用寿命

取决于实际使用情况,一?-10平/span>

仓储和物?/span>

长期存放:干燥环境下10年以三/span>

仓储和物流:-40℃到+85℃,10%?0%湿度,无凝结

工作条件

-35ℂ/span>?80ℂ/span>

TUV认证

认证编号:CU 72101153 01

检测于:UL61010-1:2009 R10.08

CAN/CSA-C22.2 61010-1-04+GI1

输入

前放电源

XR-100FastSDD-70

OEM配置

8V@15mA,峰值噪声不超过50mV、/span>

PA210/PA230或X-123?#177;5V

探头电源

XR-100FastSDD-70

-100?180V@25uA,非常稳定,

变化<0.1%

制冷电源

电流

电压

**450mA

**3.5V,峰值噪?100mV

注: XR-100FastSDD-70包含它自身的温度控制?/span>

输出

前放

灵敏?/span>

极?/span>

输出上升时间

反馈

典型?.6mV/keV(不同的探头灵敏度不同)

正输出信号(**1K负载(/span>

<60ns

复位垊/span>

温度监控灵敏?/span>

根据配置不同而变匕/span>

当使用PX5,DP5,或X-123时,直接通过软件读取开尔文温度

FastSDD-70探头可用于Amptek所有的配置?/span>

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