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AMPTEK-超快型X射线/X光硅漂移探测?/div>
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美国
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下一代硅漂移探测 (Next Generation SDD)

超快型硅漂移探测 (Super Fast SDD)

10倍通量 & 不损失任何分辨率

能量分辨率(FWHM,[eV](/span> 峰化时间(微秒)
125 8
135 1
145 0.2

?. 能量分辨率和峰化时间曲线

?. 不同峰化时间条件下超快型硅漂移探测器的输出计数率和输入计数率的关

?. 不同峰化时间条件下超快型硅漂移探测器的能量分辨率和输入计数率的关

?. 一秒钟采集结果的定量分?(样品为316型不锈钢-NIST 3155

而以下表格则显示了图4中数据的定量分析结果

元素 合格浓度 Super SDD仅需1科/span>
V 0.05 0.160.28
Cr 18.45 18.320.80
Mn 1.63 0.00.55
Fe 64.51 65.891.64
Co 0.1 0.000.40
Ni 12.18 12.560.47
Cu 0.17 0.190.02
Mo 2.38 2.340.08

?. 1.2Mcps输入计数率(ICR)情况下测量锰(Mn)样

?. 一秒钟采集结果的定量分?(样品为焊锡(/strong>


更多信息请关注AMPTEK英文官方网站9/strong>、/span>


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