1:便携式四探针电阻率测试仪 四探针电阻率测试 四探针电阻率检测仪 四探针电阻率测定?/strong> 型号：KDK-KDY-1A
概述
便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器、/p>
本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定、/p>
它主要由电器测量部份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架、/p>
为减小体积，本仪器用同一块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由高精宽的恒流源提供，随时可进行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分先材料也可以用来作产品检测。对1?00?cm标准样片的测量瓿差不超过3%，在此范围内达到国家标准机的水平、/p>
测量范围９/p>
可测 电阻率：0.01?99.9?cm、/p>
可测方块电阻?.1?999/叢/p>
当被测材料电阻率?00?cm数字表显?.00、/p>
?）恒流源９/p>
输出电流：DC 0.1mA?0mA分两桢/p>
10mA量程?.1?mA 连续可调
10mA量程?mA ?0mA连续可调
恒流精度：各档均优于0.1%
适合测量各种厚度的硅牆/p>
? 直流数字电压?/p>
测量范围??99.9mv
灵敏度：100v
准确度：0.2%?#177;2个字（/p>
? 供电电源９/p>
AC?20V 10% 50/60HZ 功率8W
? 使用环境９/p>
相对湿度?0%
? 重量、体?/p>
重量?.2 公斤
体积：宽210?00?40（mm（/p>
?）KD探针夳/p>
压痕直径?0/50m
间距?.00mm
探针合力?1N
针材：TC
2:数字式硅晶体少子寿命测试 型号：KDK-LT-100C
为解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量，特按照国标GB/T1553及SEMI MF-1535用高频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪
寿命可测范围0.25S?0ms
温馨提示：以上产品资料与图片相对应、/strong>