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2600咖啡粉专用激光粒度分析仪
地址9/span>辽宁
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简介:产品介绍Bettersize2600咖啡粉专用型激光粒度分析仪,采用了创新的直线进样路径和专用文丘里系统。这使得咖啡粉能够顺畅地通过测量区域,既无弯曲也无死角,并且实现了自动清洁功能,确保数据的准确?/div>
SCIZ100系列zeta电位?/a>
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简介:SCIZ100系列zeta电位仪该仪器可用于测定分散体系颗粒物的固-液界面电性(ζ电位),也可用于测量乳状液液滴的界面电性,也可用于测定等电点、研究界面反应过程的机理。通过测定颗粒的Zeta电位,求凹/div>
SCI-02A Zeta电位粒度测量?/a>
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简介:SCI-02AZeta电位粒度测量仪一主要用途:Zeta电位粒度测量仪采用全量程米氏散射及电泳原理,可以测悬浮于液体中的纳米颗粒表面都存在电荷和粒径分布,通过Zeta电位粒度测量,可以帮助工程师找到阺/div>
环境落尘颗粒实时监控 PFS
地址9/span>上海
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简介:Fastmicro环境落尘颗粒实时监控仪PFSFastmicro环境落尘颗粒实时监控仪,专为洁净室颗粒沉积速率测量而研发,支持秒级间隔的数据采集,精准测量0.5um以上颗粒。结合直观易用的软件系统,帮
掩膜版|保护膜表面颗粒物快速检测系统(PDS(/a>
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简介:Fastmicro掩膜版|保护膜表面颗粒物快速检测系统(PDS)为掩膜版、掩膜版保护膜以及基板(衬底)制造工艺,提供高通量的表面颗粒污染检测服务。该系统对粒径大?.1µm的颗粒具有高灵敏度,是一种高
湿法振动筛分?/a>
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简介:AODE-200SF湿法振动筛分仪湿筛振动筛分仪参数l测量范围:湿筛分?0微米-25mm/超声波湿筛分?微米-20微米l振幅设定?-3毫米.配有振幅监控系统l筛分设置:可设置连续、间歇、定时的筚/div>
​AFM-SEM 同步联用技术(通用版)
地址9/span>上海
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简介:AFM-SEM同步联用技术(通用版)产品简介革命性的原子力显微镜(AFM),可实现与扫描电子显微镜(SEM)的无缝集成,为原位关联显微镜开辟新可能。凭借优化设计,LiteScopeAFM兼容赛默飞世尓/div>
光功率热分析?OPA-3)
地址9/span>湖北
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简介:光功率热分析仪样品要求●尺寸:长×?x5~20x20,单位mm,厚?.0mm(含基底)以下为宜●相变温度测试样品,具备光学反射平面●热膨胀系数测试样品,具备光学反射双平面,适用于透光材料的热膨胀糺/div>
ZKJ 智能在线颗粒监测系统
地址9/span>天津
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简介:ZKJ智能在线颗粒监测系统ZKJ智能在线颗粒监测系统可监测洁净空间、生产线、设备等关键区域的洁净程度,并对环境中颗粒的粒径尺寸和数量进行自动、连续的测量和记录,实现对环境的实时监控。可根据不同要求制定
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