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美RTI自动曲线追踪系統 MT Century Curve Trace
产品详情
什么是Curve Tracing?
"Curve tracing"曲线追踪是用于寻找IC芯片中被电损坏的引脚的方法。MultiTrace产品提供了广泛的一系列解决方案，从使用powered curve tracing测试小型芯片的开?短路到使用Latch Up testing测试与更为复杂的多电路的芯片、/span>
RTI's MT Century Curve Tracer
RTI 开发的MT Century Curve Tracer是一个性价比较高的曲线追踪设备。MT Century Curve Tracer测试设备?多到96个channel，提?种型号可供客戶选择，一定会找到一款符合客户的预算及测试要求的系統。MT Century Curve Tracer 与RTI其他大型curve trace拥有一样的可靠性，功率和软件。像其他RTI机型一样，MT Century系統的设计有?50系列的测试夾具及其它专用夾具连接的接口、/span>
RTI's MultiTrace Test System
原來的自动曲线跟踪器已经提供超过10年。这款系统可?*检测达625引脚 它有各种尺寸可供选择，以满足*广泛用戶的需求、/span>
MultiTrace 的应?
无源曲线追踪 (Unpowered Curve Tracing):
检测开路，短路和漏电流
有源曲线追踪 (Powered Curve Tracing):
检测漏电流，供电电流问題 测量大量有用的參?/span>
电源电流测量(Supply Current Measurements):
两种方法來測量电流供
A 6-Bus 系統可同時对3组电源測野/span>
Latch Up 测试: (选配)
根据JESD 78 特征 找出 Latch-Up 敏感 .
基础 Curve Tracing 的应?
Input-Output 转换功能:
将输入电压接到引腳上，测量輸出引脚电平变?
对晶体管做曲线分枏
检测任何型号的晶体箠/span>
显微鏠
使用显微镜定位原件的损伤部位.
IDDQ 测试:
测量芯片每个状态的电流输入
功能性的引导能力:
Change Input Pin States According to an Input File Then Measure What you Need. Ability to Measure Output States Allows for Gross Functional Testing
根据所輸入信息改变输入 Pin的状态，然后进行量测。測量輸出区域的功能测试状态、/span>
Kelvin 4-Wire 阻力测试:
使用這种特制的应用软件来控制开关矩阵和收集的数据，实现精密的电阻測量、/span>
RTI's MegaTrace 自动直流參數曲线追踪
MegaTrace?48引脚开始一直到2160的引脚，因此其有足夠的能力來测试几乎任何芯片。机器集成化较高，机台很容易移动，也可以与其他仪器如显微鏡，探针台，以及其他远程测试机器一起使用、/span>
曲线追踪功能
Unpowered 曲线追踪 (连续测试)
Powered 曲线追踪
Supply Current Characterization (Idd 测试)
6条总线系统?VDD 3 VDD 湔試
其它测量及测试功胼/span>
Latch-Up 测试
功能性预处理
任何?#177;15V 一& 1A直流测量
暂无数据
美RTI自动曲线跟踪器MT Century Curve Tracer的工作原理介绍？美RTI自动曲线跟踪器MT Century Curve Tracer的使用方法？美RTI自动曲线跟踪器MT Century Curve Tracer多少钱一台？美RTI自动曲线跟踪器MT Century Curve Tracer使用的注意事顸/li>美RTI自动曲线跟踪器MT Century Curve Tracer的说明书有吗＞/li>美RTI自动曲线跟踪器MT Century Curve Tracer的操作规程有吗？美RTI自动曲线跟踪器MT Century Curve Tracer的报价含票含运费吗？美RTI自动曲线跟踪器MT Century Curve Tracer有现货吗＞/li>美RTI自动曲线跟踪器MT Century Curve Tracer包安装吗＞/li>
移动?/p>
工商已核宝/p>
