一�?span>主要特点

(1)、可寸�/span>C(6)-Fm(100)(欠�/span>ppm~100%)进行无损定性、定量分析；

(2)、采�?*WAG(Wide Angle Geometry)技术，配备8个二次靶：�/span>

(3)�?/span>8款管滤光片，更快更精确的测定微量及痕量元素；

(4)、标准配置硅漂移探测�?/span>SDD，适于高和低原子序数的元素分析检测；

(5)、针对轻原子序数元素，可配备分辨率达123eV皃�/span>SDD LE探测器；

(6)、外型坚固耐用，适于移动实验室，符合冲击试验MIL810E规格：�/span>

(7)、检测光斑可变，适于不同尺寸和形状的样品检测；

(8)、配备集成电脑、专丙�/span>nEXt?分析软件，操作方便；

二、二次靶激发技术介绌�/span>

二次靶激发技�?/span>�?*程度的去除散射背景，提高信噪比，降低检测器的检测限。如图，样品为含少量Cr＋�/span>Mn＋�/span>Fe杂质皃�/span>Ni合金。当直接激发时(绾�/span>)，杂质元素的吸收信号�?/span>Ni元素的吸收信号淹没；相反，使�?/span>Ni二次靶激发时，杂质元素的吸收信号被大大加强、�/span>

三�?/span>主要技术参�?/span>