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V-7000系列能研究看不见的世?*端紫外可见近赤外分光光度計、/span>
采用双单色器+/span>把光学系统和电气系统相结吇/span>+/span>实现世界**级的性能+/span>强有力地支撑光学材料以及光设备的分光特性评价和薄膜的膜厚测量、/span>
?根据浊/span>量波长范図/span>和灵敏度不同月/span>3种型号供选择
?实现世界一流的浊/span>量范図/span>+/-8.0Abs
?实现泡/span>镾/span>分解0.049nm的高分辨玆/span>(紫外可视区域)
?采用日本分光的光分析装置?span>仵/span>JASCO光谱管理器可轻松实现由电脑控刵/p>
型号 |
7100 |
7200 |
7300 |
光学糺/p> |
立体配置Littrow型接 双单色器双光束方弎/p> |
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光源 |
氘灯卤钨灯 水银光源(校正用(/p> |
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波长范围 |
185?00nm |
185?300nm |
185?800nm |
分辨玆/p> |
0.049nm以下(UV/VIS(/p> |
0.049nm以下(UV/VIS(/p> 0.2nm以下(NIR(/p> |
0.049nm以下(UV/VIS(/p> 0.1nm以下(NIR(/p> |
波長正確ご/p> |
0.08nm?90?00nm(/p> |
0.08nm?90?00nm(/p> 0.40nm?00?000nm) |
0.08nm?90?00nm(/p> 0.20nm?00?700nm(/p> |
测光范围 |
+/?.0Abs |
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光源 (选项(/p> |
高辉度陶瓷光溏/p> 卤素灯、水冷式高圧水银光源 |
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测光精度 |
0.00028Abs?.3Abs,UV/VIS)使用双光圈 |
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基线稳定?/p> |
0.0002Abs/Hr以下 |
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基线平坦?/p> |
0.0012Abs?00?50nm(/p> |
0.0012Abs?00?000nm(/p> |
0.0012Abs?00?700nm(/p> |
杂散先/p> |
0.00007%以下 220nm ?0g/L NaI ASTM(/p> 0.00007%以下370nm ?0g/L NaNO2(/p> |
0.00007%以下220nm ?0g/L NaI ASTM(/p> 0.00007%以下 370nm ?0g/L NaNO2(/p> 0.0003%以下1420nm H2O 光路?cm(/p> 0.00048%以下 2365nm (CHCl3 光路?cm(/p> |
0.00007%以下220nm ?0g/L NaI ASTM(/p> 0.00007%以下 370nm ?0g/L NaNO2(/p> 0.00005%以下1420nm (H2O 光路镾span>1cm(/p> |
检测器 |
光电子増倍管 |
光电子増倍管 冷却型PbS光导电素孏/p> |
光电子増倍管 冷却型InGaAs光电二极箠/p> |
定量测定 |
1??波长演算、检量线:一次、二次、三次式、比例、折纾/p> Logistic函数、样条函?/p> |
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测定光谱 |
测光方式:Abs?T?R 数据处理功能:检测波峰,波峰高度(比(/p> 波峰面积(比)、半值宽、追迹、放大、微分、平滑度、Abs/%T/%R变换 K-M变换、K-K变换、四则演算、基线补正、差光谱、除去不要波?/p> 去卷积、FFT滤光片、除去数据补间、横轴变换:cm-1?#956;m,eV,nm |
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测定时间变化 |
测光方式:Abs?T?R、数据处理功能:动力?/span>、追迹?/p> |
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测定固定波长 |
?多同时测?个波镾/p> |
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程序 |
JASCO光谱管理?/p> |
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表示 |
日本?/p> |
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尺寸?重量 |
1020(W?#215;710(D?#215;380(H)mm 91kg |
暂无数据