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四探 方阻 电阻率测试仪
双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试、/span>
FT-340系列双电测四探针方阻电阻率测试仪
本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表：/span>本仪器采?/span>4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚?/span>、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试、/span>
四探 方阻 电阻率测试仪
规格型号 |
FT-341 |
FT-342 |
FT-343 |
FT-345 |
FT-346 |
FT-347 |
1.方块电阻范围 |
10-5?105/■/span> |
10-4?103/■/span> |
10-3?105/■/span> |
10-3?103/■/span> |
10-2?105/■/span> |
10-2?103/■/span> |
2.电阻率范図/span> |
10-6?106-cm |
10-5?104-cm |
10-4?106-cm |
10-4?104-cm |
10-3?106-cm |
10-3?106-cm |
3.测试电流范围 |
0.1A?#956;A?A?00A?mA?0mA?00 mA |
1A?0A?00A?mA?0mA?00 mA |
0.1A?#956;A?0A?00A?mA?0mA?00 mA |
1A?0A?00A?mA?0mA?00 mA |
0.1A?A?0A?00A?mA?0mA?00 mA |
1A?0A?00A?mA?0mA?00 mA |
4.电流精度 |
0.1%读数 |
0.2%读数 |
0.2%读数 |
0.3%读数 |
0.3%读数 |
0.3%读数 |
5.电阻精度 |
?.3% |
?.3% |
?.3% |
?.5% |
?.5% |
?.5% |
6.显示读数 |
大屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚?/span>、电导率 |
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7.测试方式 |
双电测量 |
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8.工作电源 |
输入: AC 220V10% ?0Hz办/span>耗：<30W |
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9.整机不确定性误?/span> |
?%（标准样片结果） |
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10.选购功能 |
选购1.pc软件 选购2.方形探头 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台 |
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11.测试探头 |
探针间距选购?mm?mm?mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨钇白钢针；镀金磷铜半球形钇/span> |
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四探 方阻 电阻率测试仪
FT-340系列双电测电四探针方阻电阻率测试?/span>
FT-340 Series Double electric four-probe resistance ratio tester
一.应用说明Widely used９/span>
覆盖膛导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、导电窗 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测诔/span>
硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材?晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜 EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等，提供中文或英文两种语言操作界面选择＋/span>
二．描述Description９/span>
采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补?高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处?
规格型号/ modelFT-341 FT-342 FT-343FT-345 FT-346FT-347
1.方块电阻sheet resistance 10-5?105/?0-4?105/?0-3?105/?0-3?104 /?0-2?105/?0-2?104/■/span>
2.电阻率Resistivity 10-6?106-cm10-5?106-cm10-4?106-cm10-4?105-cm10-3?106-cm10-3?106-cm
6.显示读数display屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚 、电导率Large screen LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity
FT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪
.型号及参数Models and technical parameters
规格型modelFT-331FT-332FT-333FT-334FT-335FT-336
1.方块电阻范围Sheet resistance 10-5?105/?0-4?105/?0-3?105/?0-3?104/?0-2?105/?0-2?104/■/span>
2.电阻率范围Resistivity 10-6?106-cm10-5?106-cm10-4?106-cm10-4?105-cm10-3?106-cm10-3?105-cm
6.显示读数display液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚 、电导率LCD: resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity
7.测试方式test mode普通单电测量general single electrical measurement
温馨提示：半导体材料测量，我们提供四探针法，低阻，高阻，双电组合法，普通单电法，以及高温电阻率测试仪系列，欢迎和我们保持联?--瑞柯仪器
温馨提示：半导体材料的电导性能和均匀性通过四探针法来测试，四探针测试仪根据量程可以划分为，低阻四探针测试仪测到-6次方；高阻四探针测试仪测?次方?次方；，双电测四探针测试仪测?5次方?次方，单电测四探针测试仪-5次方?次方＋/span>
我们解决半导体材料电性能测量问题，上述都是我们产品，欢迎和我们交流—瑞柯仪?/span>
双电测四探针测试?/p>
暂无数据
瑞柯四探针方阻仪/电阻率测试仪的工作原理介绍？瑞柯四探针方阻仪/电阻率测试仪的使用方法？瑞柯四探针方阻仪/电阻率测试仪多少钱一台？瑞柯四探针方阻仪/电阻率测试仪使用的注意事顸/li>瑞柯四探针方阻仪/电阻率测试仪的说明书有吗＞/li>瑞柯四探针方阻仪/电阻率测试仪的操作规程有吗？瑞柯四探针方阻仪/电阻率测试仪的报价含票含运费吗？瑞柯四探针方阻仪/电阻率测试仪有现货吗＞/li>瑞柯四探针方阻仪/电阻率测试仪包安装吗＞/li>
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