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特点
123 eV FWHM Resolution @ 5.9 keV
髗/span>计数玆/span> >1?00?00 CPS
趄/span>高峰背比 - 26?00:1
Be window (0.5mil) 戕/span>可以配套AMPTEK C2(Si3N4(/span>
T-08 一体化封装
制冷 T> 85K
前置放大器输出成峰时 <60 ns
抗辐尃/p>
Si晶体厚度500um
内置多层准直?/p>
70 mm2 准直后有效面?/span> 50 mm2
应用
? 超快的台式和手持式分析仪
? SEM系统中用EDS进行扫描和绘国/span>
? 在线过程控制及分类设夆/span>
? OEM定制应用
封装方式9/span>可以适用AMPTEK所有封装产品,完全匹配
XR100FASTSDD with PX5
X-123FASTSDD
OEM Configurations
Vacuum Applications
分辨率:Be(0.5mil) and C windows
暂无数据
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