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Ｘ射线荧光镀层测厚及材料分析仪XDLM-PCB210
正业科技代理德国菲希尔测厚仪器产品，其产品在线路板中可以用于检测金属元素，涂层镀层的测厚，孔铜面铜的测厚，及绿油，铜箔等的测厚。另此系列产品还可广泛应用于其他行业，如汽车，飞机，五金等金属的测厚，黄金元素的测定。需要此款的朋友可以随时联系
Ｘ射线荧光镀层测厚及材料分析仪XDLM-PCB210用 ９/p>
该设备适用于多层镀层厚度测量及材料分析，可用来定量和定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量?多可同时测定24种元素，广泛应用于电路板、半导体、电镀、珠宝等工业中的功能性镀层及电镀槽液中的成分浓度分析、/p>
Ｘ射线荧光镀层测厚及材料分析仪XDLM-PCB210特点９/strong>
1、无论是镀层厚度测量，还是镀液分析，复杂的多镀层应用，一个软件程序就可以完成所有测量应?/p>
2、X射线管有带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦X射线管多种选择
3、X射线探测器PC（比例接收器）、PIN（硅PIN接收器）、SDD（硅漂移接收器）
4、可自动切换的准直器和多种滤片可以灵活地应用不同测量、/p>
技术参数：
参数 |
XULM系列 |
XDLM系列 |
XDV-系列 |
XAN系列 |
应用领域 |
电镀/电子 |
电路松/p> |
电路?电子/电镀 |
珠宝/手表 |
测量方向 |
由下往三/p> |
由上往上/p> |
由上往上/p> |
由下往三/p> |
探测?/p> |
PC |
PC |
SDD |
PIN/SDD |
射线箠/p> |
微聚?/p> |
微聚?/p> |
微聚?/p> |
微聚?/p> |
基本滤片 |
3 |
3 |
4 |
3/6 |
准直器数量、尺寸（mmm) |
4 0.05x0.05-F0.3 |
4 0.05x0.05-F0.3 |
多毛细管系统 |
4 F0.2-F2 |
C型开槼/p> |
?/p> |
?/p> |
?/p> |
?/p> |
暂无数据
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移动?/p>
工商已核宝/p>
