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型号
A3-SR-系列反射式宽广谱膜厚测量?/span>品牌
昆山胜泽产地
江苏样本
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A3-SR 系列反射式膜厚测量仪可用于测量半导体镀膜,手机触摸屏ITO 等镀膜厚度,PET柔性涂布的胶厚等厚度,LED 镀膜厚度,建筑玻璃镀膜厚度及其他需要测量膜厚的场合。A3-SR 可用于测?纳米?000 微米的膜厚,测量精度达到0.1纳米。在折射率未知的情况下,A3-SR还可用于同时对折射率和膜厚进行测量。此外,A3-SR还可用于正确测量样品的颜色和反射率。样品光斑在1毫米以内、/span>
A3-SR 进行测量简单可信赖,实际测量采样时间低?秒。配合我们的Apris SpectraSys软件进行手动测量,每次测量时间低?秒。Apris SpectraSys支持50层膜以内的模型并可对多层膜厚参数进行测量。Apris SpectraSys软件还拥有近千种材料的材料数据库,同时可对折射率进行拟合、/span>
同时,客户还可以通过软件自带数据库对材料,菜单进行管理并
回溯检查测量结果、/span>
目标应用
半导体镀膜,光刻胵/span>
玻璃减反膜测野/span>
蓝宝石镀膜,光刻胵/span>
ITO 玻璃
太阳能镀膜玻璂/span>
各种衬底上的各种膜厚
卷对卷柔性涂市/span>
颜色测量
车灯镀膜厚?/span>
阳极氧化厚度
其他需要测量膜厚的场合
暂无数据
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A3-SR-系列反射式宽广谱膜厚测量仪的使用方法>/li>
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A3-SR-系列反射式宽广谱膜厚测量仪的操作规程有吗>/li>
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A3-SR-系列反射式宽广谱膜厚测量仪包安装吗?
