参考价栻/p>面议
型号
薄膜应力测量?/span>品牌
耀他科技产地
上海样本
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FLATSCAN 薄膜应力测试仪用于对各种反射?如硅片、镜面、X射线?Goebel-mirrors)、金属表面或抛光聚合?的平整度、表面曲率、平均半径和薄膜应力(晶圆应力)进行非接触式测量。光学测量原理确保了高精度。其基于对垂直入射激光来沿具有恒定步长的线的反射角进行测量。从测量点之间反射角的变化可以精确计算出表面轮廓。对于某些应?反射角本?表面斜率)也很重要。因?软件还提供了这种测量选项、/p>
在半导体技术的应用?可通过测量镀膜前后晶圆的曲率半径来计算涂层的薄膜应力(晶圆应力)、/p>
测量区域?/p>
所用测量原理的一个特点是它与测量区域无关。因?200mm 的标准测量场直径几乎可以任意增加,而不会降低精?/p>
测量精度髗/p>
FLATSCAN 薄膜应力测试仪具有高测量精度的特点。测量系统的分辨率可 0.1arcsec。表面形状的再现性优 100 nm、/p>
测量范围和工作距离大
测量范围是指在一次扫描中能够测量?*矢高(?小可测曲率半?。FLATSCAN 的一大特点是测量范围极其宽广,这是其他竞争测量方法(如条纹干涉仪或相移干涉仪)所无法实现的、/p>
因此,FLATSCAN 薄膜应力测试仪适用于测量具有强曲率的表?例如aoebe! 镜、砗片或其他类似的表面。所采用的光学测量原理不受工作距离的影响,并确保了较高的工作距?因此不会对样本造成损坏的危险、/p>
可选的2D/3D测量
根据设备类型,可选择进行单线扫描或完整的 3D 扫描?D 扫描由众多单线扫描自动组合而成,具有自动样本定位功能。该软件提供了所有先进的图形和数值表示测量结果的常用功能,例如 3D 表征、剖面图和测量报?
用于计算薄膜应力的软件模坖/p>
该软件配备了一个基于Fowkes 理论计算薄膜应力的模?适用于半导体技术以及所有涉及表面改?如涂层或去除涂层)的应?能够快速、轻松地测量薄膜应力。薄膜应力是根据镀膜过程前后平均曲率半径计算得出的、/p>
主要技术参?/p>
1、激光束非接触式测量
2、具有自动测量晶圆的轮廓、曲率和薄膜应力的功胼/p>
3、表面曲率的重复?P-V)?00nm
4、光学测量系统的分辨玆0.1arcsec
5、光学测量系统的精度:1arcsec
6、扫描速度:10~30mm/s
7、可测量范围:标准(p200mm?00mm,更大可定刵/p>
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