参考价栻/p>1万元以下
型号
MR-S1品牌
产地
日本样本
暂无误差率:
≤?.5% FS分辨率:
0.1%仪器原理9/p>静态光散射
分散方式9/p>红外辐射加热 + 样品平铺受热均匀分散
测量时间9/p>0?9min可调
测量范围9/p>湿基 0~100%、干 0~500%,称 0.5-120g
森泽在线粒度?/p>
森泽MR-S1
国产在线粒度?/p>
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对CMP用浆料中的颗粒进行无稀释度测量
通过CMP技术监测浆料中含有的粗大颗粒物
可安装于使用点,无需稀释即可直接进行测野/span>
通过在线监测实现对划痕缺陷的早期发现
适用于制造现场的持续监控
规格?/span>
| 触控面板 | 1. 测定条件设定 2. 测定开始、停歡/p> 3. 趋势曲线国/p> 4. 数据数值列?/p> 5. 报错信息列表 |
| 外部输出 | 1. 可通过触控面板经由以太网向上位计算机传输数?/p> 2. I/O 系统 8 点继电器输出配置 |
| 粒径区分? 档) | 3 μm 以上? μm 以上 |
| 测定可变范围 | 选择 3 μm 规格:MAX 25 μm 选择 5 μm 规格:MAX 40 μm |
| 额定流量 | 60 mL/min |
| 电源 | AC100 V?0/60 Hz |
| 接口规格 | PFA 3/8 英寸 |
| 外形尺寸・重野/td> | 480(H) × 300(W) × 300(D) mm?4 kg |


CMP颗粒传感 KS-71

| 光学方式 | 遮光弎/td> |
| 光源 | 半导体激光(波长 780 nm,额定输 3 mW(/td> |
| 激光产品等?/td> | Class1,符 IEC 60825-1:2001 |
| 受光元件 | 光电二极箠/td> |
| 额定流量 | 60 mL/min |
| 试样导入加压 | 300 kPa(表压)以下 |
| 试样温度范围 | 15 ℃~35 ℃(检测池部位不可结露(/td> |
| 接液部件材质 | 合成石英、PFA |
| 可测粒径 | MIN 3 μm |
| 可测粒径 | MAX 25 μm(若有大 25 μm 颗粒通过,峰值精度会下降(/td> |
| 粒径区分? 档) | 3 μm 以上? μm 以上 |
| 计数效率 | 50 ±10 %(纯水中,粒径接 5 μm PSL 粒子,在 3 μm 档位与参照仪器对比条件下(/td> |
| 额定粒子个数浓度 | MAX 62000 /min |
| 电源(由外部控制接线端子供电(/td> | 输入电压范围:DC9 V?8 V 功耗:MAX 3.0 VA |
| 使用温湿度范図/td> | 15 ℃~35 ℃?5 % RH 以下(不可结露) |
| 保存温湿度范図/td> | ?0 ℃~50 ℃?0 % RH 以下(不可结露,流路内液体不可冻结) |
| 外形・重野/td> | 51 (H) × 107 (W) × 58 (D) mm(不含凸起部位),约 400 g |
KS?1 传感器直接接入工艺管路,持续监测浆料颗粒状态,规避离线取样带来的时间滞后问题
一、工艺痛点静电卡盘(ESC)制造中,陶瓷生片电极印刷常见难点:大尺寸生瓷片薄、易形变,普通真空吸附易造成薄片翘曲、对位偏移电极层厚度不均、离模拉扯导致线条毛刺、断线,直接影响静电吸附均匀性浆料(导电
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