我公司推出OLED器件和钙钛矿LED发射角度光谱分析系统（OLED光谱分析仪）�?/span>载流子迁移率测量系统、电学性能评估系统以及软件模拟研发系统，为广大科研工作者和研发机构提供了有力的测试工具、�/span>

主要测试功能９�/span>OLED效率测量/EQE测量，Lm/W � Cd/A：�/p>

发射角度测量：�/p>

光谱&颜色测量@发射角；

CIE xyY测量：�/p>

视角测量：�/p>

IVL(电流—电压—亮�?测量：�/p>

PL光致发光和EL电致发光测量：�/p>

极化测量：�/span>

主要技术规格：

角度范围�?85��~+85��：�/span>

光谱范围�?60nm~880nm，分辨率1.2nm;