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无损检?无损探伤仪器
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比表面积测定?/a>
产品简今/div>
日本SAN-EI公司推出高准直太阳光模拟?/strong>(高平行太阳光模拟?,准直度半角小于0.3度,实现了高准直性测试的各种要求。目前已被国内权威机构采购并使用、/span>
AM1.5G /AM0 太阳光光谱;
准直接半觑0.3度(可定制其他角度):/span>
不稳定?2%;
均匀性可定制:/span>
照射距离可定制;
照射角度和方向可定制:/span>
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