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TFX4000OCD——光学关键尺寸量浊/div>
报价9span>面议
品牌9/td> 睿励科学
产地9/td> 上海
关注度: 285
型号9/td> TFX4000OCD——光学关键尺寸量浊/td>
产品介绍

光学关键尺寸量测产品基于光学膜厚量测平台,搭载自主研光学关键尺寸量测产品基于光学膜厚量测平台,搭载自主研发算法功能,可应用于显影后检查(ADI)、刻蚀后检查(AEI)等多种工艺段的二维或三维样品的线宽、侧壁角度(SWA)、高度(Height?深度等关键尺寸(CD)特征或整体形貌测量、/p>

问商宵/div>
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睿励科学仪器(上海)有限公司为您提供睿励科学TFX4000OCD——光学关键尺寸量测,TFX4000OCD——光学关键尺寸量测产地为上海,属于其他,除了TFX4000OCD——光学关键尺寸量测的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供TFX4000i--薄膜厚度测量设备、TFX3000P--薄膜厚度测量设备、明场光学缺陷检测设备——BriteSD 300
工商信息
企业名称

睿励科学仪器(上海)有限公司

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91310000774781787F

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