基于Phasics四波横向剪切干涉**技术，SID4-HR波前分析仪提供了相位和强度高分辨率（400x300测量点）图。由于它测量发散光束不需要中继镜头，简单对齐即可测试光学元器件。其高分辨率确保结果的重复性。高分辨率还开辟了波前传感的新用途：等离子体密度测量，相位成像显微?/span>
SID4-HR光学器件测量自适应光学
特点９/span>
由于其独特的**技术，Phasics皃/span>SID4-HR波前传感器具备以下特点：
1.超高分辨率：400x300相位国/span>
2.直接测量发散和准直光杞/span>
3.仍/span>400?/span>1100nm消色?/span>
4.自校准：振动不敏愞/strong>和容易对齏/span>
5.紧凑＋strong>体积導/strong>
应用９/span>
由于其分辨率高，SID4-HR波前传感器提供新的可能性应用：
激光：光束诊断、自适应光学和等离子体表?/span>
光学：精密透镜测试和表面测野/span>
生物学：定量相位显微?/span>
SID4-HR产品参数９/span>
波长范围 |
400 - 1100 nm |
通光孔径 |
8.9 x 11.8 mm2 |
空间分辨玆/span> |
29.6 m |
采样点（相位/强度（/span> |
300 x 400 (> 120 000 points) |
相位相对灵敏?/span> |
< 2 nm RMS |
相位精度 |
15 nm RMS |
动态范図/span> |
> 500 m |
采样频率 |
> 10 fps |
实时分析频率 |
> 3 fps (full resolution) |
数据接口 |
Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) |
54 x 46 x 79 mm |
重量 |
~250 g |
