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X射线荧光镀层厚度测量仪 FT230
X射线荧光镀层厚度测量仪
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为色彩表现设定新标准,提供完整又经济实惠的颜色解决方桇br style="text-size-adjust: none; box-sizing: border-box;"/>
支持 NetProfiler,用户可管理多台仪器(不同地区)的性能,实现仪器的数据一致?br style="text-size-adjust: none; box-sizing: border-box;"/> 具有校准 UV 功能,便于精确测量含荧光物质的样?限Ci4200UV)
输出 60º 光泽度数据,能更准确地评估样品光泽度,符合ASTM D523和ISO 2813、br style="text-size-adjust: none; box-sizing: border-box;"/> LED 灯面板显示运行状态以及利用测量键远程触发
可定位或预览样品夹具
2秒内同时进行 SCI/SCE 测量
支持水平和垂直测量方弎br style="text-size-adjust: none; box-sizing: border-box;"/> 可与X-rite手持式积分球仪器数据兼容,数据相互交捡/p>
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