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雄迈电子科技贸易(上海)有限公司
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产品分类
其他
色谱?/a>
测量/计量仪器
X射线荧光镀层厚度测量仪 FT230
X射线荧光镀层厚度测量仪
热示差扫描卡量计 DSC
质谱检测分析仪
产品简今/div>
HITACHI推出NEXTA DSC系列,透过重新设计的炉体来提升基线的稳定性,并能同时搭载不同的冷却系统在需要的时候切换使用。模块化安全设计加入保护机制,设定在安全温度下才能开启炉体避免工安意外、/p>
相变?DSC) |
---|
相变化点 (Phase transition) |
玻璃转移温度 (Tg)(Glass Transition Temperature) |
熔点 (Tm)(Melting point) |
反应热、熔融热 (DH) |
冷结晶温 (Crystal Temperature) |
降温结晶温度 (Crystal Temperature) |
结晶 (Crystallinity) |
反应动力?/td> |
比热 (Specific Heat) |
Real View System
HITACHI **影像观测系统Real View可以安装在HITACHI DSC、STA、DMA和NEXTA STA四台热分析设备上。结合了测试出的讯号、温度以及实时影像,可以透过影像或图式观察到Tg、熔融、裂解、变色…等样品实时的外观变化、br style="text-size-adjust: none; box-sizing: border-box;"/>
同时更新了Real View System的应用范図/span>
NEXTA 分析软件新增新的影像分析方式9/p>
样品观察与记彔/p>
数位变焦
长度测量
图片编辑
颜色分析 (RGB,YMCK分析)
UV System
搭配UV System来测试光感性质材料
利用不同的滤波器快速切换不同波段来找到适合材料的照射波长以及强度控制,配合DSC稳定的控温来找到光感性材料适合的加工及制成条件、/span>
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