仪器简介：

产品特点�

仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率，具有精度高、灵敏度高以及自动控制等特点。光源采用氦氖激光器，功率稳定波长精度高�

仪器采用USB接口与电脑连接，配套软件功能齐全，具有多样数据采集及处理方式，适用于不同用户的需要、�/p>

技术参数：

规格与主要技术指标：

测量范围�?nm-4000nm 折射率范围：1-10

测量*小值：�?nm 入射角：20��- 90��精度�?.05��

度盘刻度：每�?� 允许样品尺寸�?#966;10-��140mm，厚度≤16mm

偏振器方位角范围�?��- 180�� 外形尺寸�?80*390*310mm

测量膜厚和折射率重复性精度分别为�?.5nm�?.005

主机重量�?6kg

仪器测量精度�?#177;0.5nm（薄膜厚度在10-100nm时）

光学中心高度�?0mm 成套性：主机、电控系统、USB接口、配套软�

成套性：主机、电控系统、USB接口、配套软件（需配计算机（�/p>

主要特点９�/strong>

产品特点�

仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率，具有精度高、灵敏度高以及自动控制等特点。光源采用氦氖激光器，功率稳定波长精度高�

仪器采用USB接口与电脑连接，配套软件功能齐全，具有多样数据采集及处理方式，适用于不同用户的需要、�/p>