核心技术：

**光学设计达到业界*低信噪比

**AI影像比对技术，漏检率达�?位�/p>

结合光学及影像处理技术，在高反光背景材料和透明材料上均能清晰检测待测物

先进性：

采用**双非球面镜头设计，搭配光学系统设计以及AI影像比对技术，显著提升AOI设备3D检测能力，Z轴解析度可达2um，漏检率低�?lt;0.3%、�/p>

技术完全自主，可根据客户需求针对不同产品检测做定制化设计，协助客户达到高良率与**品质

简介： 核心技术： **光学设计达到业界*低信噪比 **AI影像比对技术，漏检率达�?� 结合光学及影像处理技术，在高反光背景材料和透明材料上均能清晰检测待测物 先进性： 采用**双非球面镜头设计，搭配光学系统设计以及AI影像比对技术，显著提升AOI设备3D检测能力，Z轴解析度可达2um，漏检率低�?lt;0.3%� 技术完全自主，可根据客户需求针对不同产品检测做定制化设计，协助客户达到高良率与**品质

品牌� Honhor