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应用范围9/span>灵活皃/span>OEM设备,用于多种不同样品的在线寿命测量:从单晶硅到多晶硅锭,从生成态晶圆片到不同镀层或金属化晶圆的过程控制、span>标准软件接口,易于连接到许多处理或自动化系统、/span>
MDPlinescan是一个易于集成的OEM单元,可集成到各种自动化的检测线。关键的测量参数是实时的载流子寿命扫描、/p> 样品通常由测量头下的传送带或机器人系统来输送。应用实例从晶锭到晶圆的检测,每个晶圆的测量速度小于一秒、/span> 电池生产线上的来料质量检查是*常用的一种应用方向,同样,钝化和扩散后的工艺质量检查也能用到此款产品、/span> 还有许多其他的专门应用可能性。由于其易于集成,只需要以太网连接和电源、/span> l 各种不同的样品,从单晶硅到多晶硅,从生长的晶片到加工过的晶片,都可以通过MDPlinescan使用少子寿命测量进行检测、/span> l MDPlinescan是一个易于集成的OEM单元,可集成到各种自动化的检测线。关键的测量参数是实时的载流子寿命扫描、/span> l 样品通常由测量头下的传送带或机器人系统来输送。应用实例从晶锭到晶圆的检测,每个晶圆的测量速度小于一秒、/span> 该仪器有许多专门应用可能性。由于其易于集成,只需要以太网连接和电源即可、/span>例如+/span>电池生产线上的来料质量检查是兵/span>*常用的一种应用方向,同样,钝化和扩散后的工艺质量检查也能用到此款产品、/span> 优势 l ?/span>-PCD或稳态激发条件下测量少数载流子寿命和电阻率是这个工具的重点、/span> l 用于集成在生产线的多晶或单晶硅晶圅/span>,包括材料制备,和各种工艺处理阶段、/span> 小尺寸和标准的自动化接口使集成变得容易。优势是长时间的可靠性和测量结果的高精度、/span> 样品种类 多晶或单晶晶元片 晶锭,晶胝/span> 样品尺寸 大约50 x 50 mm2 电阻玆/span> 0.2 - 103 Ohm cm 电导类型 p n 材质 硅晶圆,部分或完全加工晶圆,化合物半导体筈/span> 测量属?/span> 载流子的少子寿命 硬件接口 ethernet 大小 174 x 107 x 205 mm 重量: 3 kg 电源 24 V DC 2 A产品介绍
技术参?/span>
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