公司介绍：
珠海真理光学仪器有限公司专注于高端颗粒表征仪器的研发和制造，产品涵盖激光（衍射法）粒度分析仪、动态光散射纳米粒度及Zeta电位分析仪以及颗粒图像分析仪，既有实验室仪器，又有在线检测系统。真理光学秉持“科学态度，工匠精神”，为用户提供世界先进的高端产品和服务。
真理光学汇集了以张福根博士为代表的全国颗粒表征领域的顶尖人才。张福根博士现任本公司董事长兼首席科学家，还担任全国颗粒表征及分检与筛网标准化技术委员会副主任委员、天津大学兼职教授，曾担任中国颗粒学会副理事长，同时也是“欧美克”字号公司的创始人。曾担任英国某粒度仪器公司中国总经理20余年的秦和义先生担任公司商务总经理，中国颗粒学会青年理事潘林超博士、陈进博士担纲公司的研发主力。
激光（衍射法）粒度仪虽然已得到广泛应用，但它并不完美，不论是科学基础方面，还是技术方案方面。真理光学的团队针对当前市面上仪器存在的不足，展开了系统的理论研究和技术创新，发现了衍射光斑（爱里斑）的反常变化现象（ACAD），解释了为什么不能测量3μm左右的聚苯乙烯微球，并给出了反常区（不能测量粒径）的一般公式；研究了衍射仪器的测量上限和下限；研究了颗粒折射率偏差对测量结果的影响，发明了两种根据散射光分布估算颗粒折射率的方法；提出了斜置梯形窗口技术方案，解决了前向超大角测量盲区的问题，使衍射仪器的亚微米颗粒测量水平显著提高；提出了统一的反演算法（专有技术），消除了不同计算模式给出不同结果的尴尬；设计出了高达20Kfps的超高速并行数据采样电路，使干法测量的精度不亚于湿法测量，对高速喷雾场的测量（时间）分辨率也更高。
在纳米粒度及Zeta电位仪方面，真理光学提出了比相位分析法（PALS）更先进的余弦拟合相位分析法（CF-PALS），用光纤分束取代了传统的平板分束镜分束，用光纤内光干涉取代了自由空间干涉，使Zeta电位的测量重复性大幅度提高。
部分产品介绍
1.LT3600 Plus激光粒度分析仪
产品介绍：
LT3600 Plus是真理光学基于多年的科研成果开发的新一代超高速智能激光粒度分析系统，其多项技术性能和指标均突破了市场上现有的激光粒度仪的局限性和瓶颈，成为当今粒度仪市场具有里程碑意义的产品。
LT3600 Plus加持了以下多项创新和技术：
偏振滤波技术；
衍射爱里斑反常变化（ACAD）的补偿修正技术；
斜置梯形测量窗口；
格栅式超大角检测技术；
统一的粒度分析模式；
双驱动进样分散集成技术；
样品槽液位实时监测技术。
2.LT3900激光粒度分析仪
产品介绍：
真理光学技术团队秉持一贯的科学精神和技术创新能力，在三十余年的颗粒表征理论研究、技术创新及应用经验的基础上，将原先的LT3600Plus以及LT2200技术再提升一步，隆重推出LT3900激光粒度分析仪。
LT3900 独特的创新技术及功能包括：
● 无衍射照明光学模组；
● 超大角散射光增强技术；
● 弱散射光抗干扰技术；
● 后向散射角扩展技术；
● 折射率计算功能；
● 测试报告格式用户自主编辑功能；
● AI优化功能；
● 数据自动备份功能（备份路径及时间用户可指定）。
3.PATlink1000在线粒度分析仪
产品介绍：
PATlink1000系列是真理光学基于粒度表征技术及自动化过程控制技术开发的新一代全实时在线粒度监测与控制系统，适合干法和湿法的生产工艺过程，既可用于在线粒度测量，也可以用于线上和现场的粒度分析。
PATlink 系列在线粒度仪具有坚固的架构和先进的技术支撑，以满足苛刻及复杂的过程工艺环境对连续粒度测量和控制的要求，被广泛应用于电池材料、制药、食品、涂料、水泥、染料、金属粉末、矿物和调色剂等行业的工艺过程环境。PATlink1000在线粒度仪采用光缆连接控制室的计算机和粒度检测系统及控制单元，具有极强的抗干扰能力，并实现远距离的数据传输和控制。嵌入式仿真控制程序模块和界面，使所有阀门和气流状态一目了然。每秒5次的完整的粒度分布数据可通过满足Modbus RTU/TCP等标准工业通信控制协议的接口实时输送至用户的PLC系统，任何时刻的粒度指标的偏离都可触发对生产设备的自动调整和控制，确保产品颗粒粒度持续满足用户设定的指标要求。
4.Nanolink SZ902纳米粒度及Zeta电位仪
产品介绍：
Nanolink SZ902系列纳米粒度分析仪是继在SZ901系列纳米粒度分析仪后推出的全新一款高性能动态光散射纳米粒度仪产品，加持了真理光学研发的全自动聚焦技术，实现了对纳米样品的多角度测量，无需稀释即可对不同浓度纳米样品的粒度及Zeta电位快速测量，十分适合各种有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等多种样品的粒度及Zeta电位研究级分析测试。
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