Filmetrics F3 薄膜厚度测量�?/p>

经济适用的反射率测试系统

F3系统是专门为采集反射率光谱曲线设计的，并且可选配至厚度和指数测试功能，基本通用型拥�?0000个小时适用寿命的光源及自动波长校准，大大提高了测试准确度、�/p>

快速厚度测诔�/p>

升级厚度测试软件许可后，厚度值将在测试数据结果中直观的显示。软件中存入了常用的介质材料及半导体层的光学常数、�/p>

指数测试功能（n � k（�/p>

对于更高级用户来说， 指数测试软件升级能在短时间内提供折射率和消光系数、�/p>

Filmetrics的优劾�/p>

桌面型薄膜厚度测量的全球***

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