参考价栻/p>面议
型号
地质矿物颗粒成分分析用Phenom ProX G7品牌
产地
荷兰样本
暂无
金牌会员
|?平/p>|
代理啅/p>
工商已核宝/p>
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探测器：
背散射探测器、能谱探测器加速电压：
基本模式 2 kV? kV?0 kV?5 kV?0 kV电子枪：
CeB6 灯丝，使用寿命优 3000 小时电子光学放大９/p>350,000 X
光学放大９/p>27 - 160 X
分辨率：
优于 6 nm复纳科技扫描电镜
复纳科技 地质矿物颗粒成分分析用Phenom ProX G7
国产扫描电镜
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地质矿物颗粒成分分析用飞纳台式扫描电镜Phenom ProX G7 是飞纳推出的台式扫描电镜能谱一体机，可用于地质矿物颗粒成分分析，帮助观察矿物形貌并辅助判断元素组成、/span>
| 参数 | 指标 |
|---|---|
| 电子?/td> | CeB 灯丝（寿命＞3000 h（/td> |
| 光学放大倍率 | 27?60 X |
| 电子光学放大倍率 | 350,000 X |
| 分辨能力 | 优于 6 nm |
| 加速电压（基础档） | 2 kV? kV?0 kV?5 kV?0 kV |
| 加速电压（连续档） | 4.8 kV?0.5 kV 连续可调 |
产品特点９/span>
1. 台式扫描电镜与能谱分析能力结合、/span>
2. 电子光学放大倍数可达 350,000 X、/span>
3. 分辨率优 6 nm，适合常规材料微观形貌观察、/span>
4. CeB6 灯丝寿命优于 3000 小时、/span>
5. 支持?低真空模式、/span>
6. 标配背散射探测器和能谱探测器，可选配二次电子探测器、/span>
7. 适合颗粒、异物、缺陷区域和材料微区成分分析、/span>
8. 支持官方选型咨询，可预约试样、/span>
高校实验宣/p>
企业研发中心
第三方检测机枃/p>
工业质检环节
| 参数 | 指标 |
|---|---|
| 真空环境 | 高真 / 低真穹/td> |
| 标准探测单元 | 背散射探测器、能谱探测器 |
| 扩展探测单元 | 二次电子探测?/td> |
地质矿物颗粒成分表征
岩石样品微观形貌检觅/p>
矿物材质研发检浊/p>
科研实验室日常分枏/p>
第三方机构检测服加/p>
Q1：该设备主要服务于哪些分析需求？A：材质形貌检视、微区元素判定、颗粒异物解析、失效溯源及研发质检、/p>
Q2：能否实现元素判定？A：可以。该产品为电镜能谱一体化设备，可对颗粒、异物或局部微区的元素组成进行分析、/p>
Q3：设备报价如何确定？A?终价格与配置方案、探测单元选型及应用需求挂钩。可通过平台询价通道提交需求，获取针对性选型建议并安排试样、/p>
如需了解地质矿物颗粒成分分析用飞纳台式扫描电镛span style="font-family:宋体">Phenom ProX G7 在地质矿物成分中的配置方案、应用资料或报价信息，可通过平台询价/留言入口提交样品类型与测试需求，获取官方选型建议，并预约试样、/span>
暂无数据
2020-12-09
2020-12-21
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