Porometer的MP?技术（多级压力步进平衡法）——现已正式获得专利——将精密孔隙测量提升至全新高度。
该技术专为POROLUX?Revo系列设计，MP?技术引入智能压力控制功能，确保每个数据点都在时机和精确压力下采集——从而实现当今最精准、可重复性最高的孔径测量。
获专利的MP?技术
MP?代表多级压力步进平衡法。这项创新技术能确保测量过程中压力平稳提升，并加速达到流量与压力稳定状态。
为何为MP?技术申请专利
我们为MP?技术申请专利，既是为了保护这项真正推动孔隙测量科学发展的突破性成果，也是为了庆祝这一创举。
通过重新定义压力控制，MP?技术确保了无懈可击的阶梯稳定性，并在整个过程运行中持续保持高速。
这不仅是技术升级——更是数据精度与仪器可靠性的里程碑。
Aptco Technologies总经理Kees van der Kamp强调此项新专利的重要性：
“我们的MP?技术获得官方专利认证，是对团队自主研发所达成的深层科学理解与工程精度的肯定。这彰显了Porometer对待创新的严谨态度——我们仪器的每个细节都植根于专业知识、丰富经验以及对精准性的不懈追求。”
MP?技术的功能
MP?技术通过智能方式全程管理测量过程中的压力建立与稳定阶段：
在各选定测量点前精准缓释压力
保持每个压力阶跃的持续稳定与高度一致性
仅在气流与压力达到完全稳态时采集有效数据点
注：图示为采用POROLUX?Revo测量的聚合物平板膜湿曲线、干曲线及半干曲线 b）拟合孔径分布图
这项技术确保测试结果具有一致性、可靠性，为材料研究构建坚实的认知基础。
为您带来的价值
内置MP?技术的POROLUX?Revo系列使用户享有：
更高测量精度与结果复现性
1mbar级精准控制的压力递增区间
更平滑的湿曲线与更精细的孔径分布图，同时实现最小化压力波动
针对无纺布、纺织品及径迹蚀刻膜等材料实现更快更稳定的测量周期
结论
获得专利的MP?技术奠定了Porometer在孔隙测量领域创新领导者的地位。
通过将智能过程控制与数十年专业经验相结合，Porometer持续将精准性与可靠性提升至全新高度。
注：以上内容编译自Porometer官网，图片等内容版权归属于Porometer
