轻松实现从毫米到纳米无缝转换测量、�/span>

兼具激光显微镜和探针显微镜功能的一体机、�/span>

轻松检浊�/span>85��尖锐觑�/span>

采用了有着髗�/span>N.A.的专用物镜和专用光学系统（能**限度发挥405 nm激光性能），LEXT OLS4500可以精确地测量一直以来无法测量的有尖锐角的样品、�/span>

LEXT专用物镜有尖锐角的样品（剃刀（�/span>

高度分辨�?0nm，轻松测量微小轮廒�/span>

由于采用405 nm的短波长激光和更高数值孔径的物镜＋�/span>OLS4500达到亅�/span>0.12��m的平面分辨率。因此，可以对样品的表面进行亚微米的测量。结合高精度的光栅读取能力和奥林巴斯独有的亮度检测技术，OLS4500可以分辨出亚微米到数百微米范围内的高度差。此外，激光显微镜测量还保证了测量仪器的两大指标——“正确性”（测量值与真正值的接近程度）和“重复性”（多次测量值的偏差程度）的性能、�/span>

0.12��m行间�高度差标准类垊�/span>B� PTB-5

从大范围拼接影像中指定目标区埞�/span>

高倍率影像容易使视场范围变小，而通过设置＋�/span>OLS4500的拼接功�?多可以拼�?/span>625幅影像，从而能够获得高分辨率的大范围视图数据。不仅如此，还可以在该大范围视图上进衋�/span>3D显示戕�/span>3D测量、�/span>