�?80nm~1050nm的可视光至近红外实现大范围波长区域中的分光测宙�/h2>

奥林巴斯的近红外显微分光测定仪USPM-RU-W可以高�?高精细地进行可视光区域至近红外区域的

大范围波长的分光测定。由于其可以很容易地测定通常的分光光度计所不能测定的细微区域、曲面的

反射率，因此*适用于光学元件与微小的电子部件等产品、�/p>

测定反射玆�/span>

测定以物镜聚光的��17~70��m的微小点的反射率、�/p>

反射率测定光路图

反射率测定例：镜�反射率测定例：镜片周边部佌�/span>

测定膜厚

活用反射率数据，测定�?0nm~�?0��m的单层膜、多层膜的膜厚、�/p>

膜厚测定的图侊�/span>

测定物体颜色

根据反射率数据显示XY色度图、L*a*b*色度图及相关数值、�/p>

物体色的测定图例

多样化应�?/span>

通过测定球面、非球面的镜片、滤镜、反射镜等光学元件的反射率，进行涂层评价、物体颜色测定、膜厚测定、�/span>

数码相机镜片 /投影仪镜� / 眼镜牆�/p>

适用于LED反射镜、半导体基板等微小电子部件的反射率测定、膜厚测定、�/h3>

LED包装 /半导体基松�/p>

适用于平面光学元件、彩色滤镜、光学薄膜等的反射率测定、膜厚测定、透过率测定、�/h3>

液晶彩色滤镜 /光学薄膜

适用于棱镜、反射镜�?5度入射产生的反射率测定、�/span>

棱镜 /反射�

备注：标配价格区间为50�?80万，根据选择的配置价格可能会高出标配价格、�p>-END-