“纳米颗粒表征及应用技术研讨会”在京召开

2008年12月16日，北京粉体技术协会和英国马尔文仪器有限公司联合举办的“纳米颗粒表征及应用技术研讨会”在北科大厦报告厅顺利召开。出席本次会议的有科研院所、高等院校以及相关企业的70多位相关人员，会议内容涉及纳米颗粒粒度分布测量、Zeta电位测量、纳米样品分散等技术原理与应用及纳米技术相关标准现状的介绍。





“纳米颗粒表征及应用技术研讨会”会议现场

会议伊始，国内粉体行业知名专家、北京粉体技术协会理事长胡荣泽教授作了“超微粉粒度分布测量”学术报告：主要介绍了已有的超微粉粒度分布测量方法、分散方法、不同仪器测试结果不同的原因以及粒度仪的选择要点。



胡荣泽教授：“超微粉粒度分布测量”学术报告

北京市理化分析测试中心物理室主任、北京粉体技术协会副理事长兼秘书长周素红在“纳米技术相关标准现状”报告中，介绍了标准的分类、与纳米相关的国际标准化组织及国内 纳米材料标准化现状及进展。



周素红高工：“纳米技术相关标准现状”

以“纳米测量技术最新进展”、“纳米样品分散技术及应用”为主题，马尔文公司专业技术人员的报告内容丰富——涵盖纳米检测技术概述、动态光散射原理和最新进展、静态光散射和分子量的测定、多普勒电泳光散射和Zeta电位测定、颗粒间相互作用和高浓度样品测定等。



马尔文仪器(中国)公司总经理秦和义先生解答用户问题

在报告中，马尔文公司提到其最新推出的 纳米粒度仪Zetasizer APS和Zetasizer μV。这两款新品指向生物领域应用，为蛋白质表征而设计。Zetasizer APS可对行业标准96或384孔载样板中的样品进行自动化动态光散射测量；Zetasizer μV则是对马尔文已有Zetasizer系列产品在应对高灵敏度和小容量测试需求上的补充。

　　本次大会是北京粉体技术协会今年以来在颗粒表征技术方面参与主办的第一场学术性质的会议，协会明年将主办更多介绍该领域技术及相关进展的类似会议。