认证信息
高级会员
2平/div> 称：
安柏来科学仪器（上海）有限公号/b>
证：工商信息已核宝br /> 访问量：31015
证：工商信息已核宝br /> 访问量：31015
安柏来科学仪器（上海）有限公号/div>
首页 > 产品中心 > 测厚 > 博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪G系列
产品详情
博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪G系列
产品简今/div>
博曼G系列产品概述９/span>
G系列是博?*性价比的一款机型。该机型机构紧凑，没有可移动部件。与博曼其他系列不同，该系列X射线照射方式采用自下往上式。用户可将样品放置在一个清晰的测试窗口上，并使用相机对图像进行定位。G系列的样品仓较小，可手动调整样品位置测量样品，该系列主要应用于珠宝和其他贵金属行业的镀层分析与应用、/span>
G系列标准配置包括一个固定准直器，一个固定焦距的相机，固态PIN探测器和质量可靠的微聚焦X射线管。与其他型号一样，该型号也可升级为包括多个准直器，可变焦点相机和SDD探测器、/span>
博曼G系列可满足以下类型用户的需求：
- 样品测试量相对较導/span>
- 客户或供应商对于镀层提出了新要汁/span>
- 主要分析珠宝或其他贵金属
- 预留摆放空间導/span>
- 预算有限
博曼G系列产品参数９/span>
类别 |
参数 |
元素测量范围９/span> X射线管： 探测器： 分析层数及元素数９/span> 滤波?准直器： 焦距９/span> 数字脉冲器： 计算机： 相机９/span> 电源９/span> 重量９/span> 马达控制/可编程XY平台９/span> 延伸可编程XY平台９/span> 样品仓尺寸： 外形尺寸９/span> |
13号铝元素?2号铀元素 50 W?0kV?mA）微聚焦钨钯射线箠/span> 190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器 5层，每层可分?0种元素，成分分析*多可分析25种元紟/span> 4位置一次过滤器/双规格准直器 激光单定焦跜/span> 4096 多通道数字处理器，自动死时间和逃逸峰校正 英特尔， 酷睿 i5 3470 处理 (3.2GHz) 8GB DDR3 内存 微软 Windows 10 专业版， 64佌/span> 1 / 4"CMOS-1280720 VGA分辨玆/span> 150W?00-240V，频率范围为47Hz?3Hz 25kg 不可?/span> 不可?/span> 高度?25mm?"），宽度?80mm?5"），深度?00mm?2"（/span> 高度９/span>400mm?6"），宽度?00mm?6"），深度?80mm?5"（/span> |
关于美国博曼９/span>
美国博曼（Bowman）是高精度台式镀层测厚仪供应商，拥有?0年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统，可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素，其中任何两层元素可以是合金。同时，博曼XRF系统也可以测量高熵合金（HEAs）、/span>
- 推荐产品
- 供应产品
- 产品分类