博曼L系列产品概述９�/span>

L系列是博曼的通用机型。该系列将更大的样品室和更大的XY平台相结合。对于大的镀件，L系列是必备品。大样品台和XY行程可实现大镀件的多点测量� 封闭式样品仓可容�?2"x22"x24"（LxWxH）的样品。XY平台的行程为13"x10"、�/span>

标准配置包括一�?位置多准直器组件，以及一个可在凹陷区域进行测量的变焦相机� 与其他型号一样，准直器尺寸和焦距可根据不同的客户应用进行定制� 包括可编程的XY平台，为了满足更大样品测测量，XY平台可以移除。探测器采用硅PIN半导体探测器，可升级为高性能SDD探测器、�/span>

博曼L系列可满足以下类型用户的需求：

- 样品的长宽高分别超过12"但小�?4"

- 需容纳多个样品进行自动化多点测野�/span>

- 可扩展到更大尺寸的样品，用于未来的项�?/span>

- 符合IPC-4552A

博曼L系列产品参数９�/span>

类别

参数

元素测量范围９�/span> X射线管： 探测器： 分析层数及元素数９�/span> 滤波�?准直器： 焦距９�/span> 数字脉冲器： 计算机： 相机９�/span> 电源９�/span> 重量９�/span> 可编程XY平台９�/span> 样品仓尺寸： 外形尺寸９�/span>

13号铝元素�?2号铀元素 50 W�?0kV�?mA）微聚焦射线箠�/span> 190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器 5层，每层可分�?0种元素，成分分析*多可分析25种元紟�/span> 4位置一次过滤器/4种规格准直器 可变�?/span> 4096 多通道数字处理器，自动死时间和逃逸峰校正 英特尔， 酷睿 i5 3470 处理� (3.2GHz)� 8GB DDR3 内存� 微软 Windows 10 专业版， 64佌�/span> 1 / 4"CMOS-1280��720 VGA分辨玆�/span> 150W�?00-240V，频率范围为47Hz�?3Hz 110kg 平台尺寸�?0"x 10"| 行程�?0"x 10" 高度�?80mm�?1"），宽度�?50mm�?2"），深度�?00mm�?4"（�/span> 高度�?50mm�?0"），宽度�?00mm�?8"），深度�?50mm�?0"（�/span>

关于美国博曼９�/span>

美国博曼（Bowman）是高精度台式镀层测厚仪供应商，拥有�?0年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统，可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素，其中任何两层元素可以是合金。同时，博曼XRF系统也可以测量高熵合金（HEAs）、�/span>