认证信息
高级会员
2平/div> 称：
安柏来科学仪器（上海）有限公号/b>
证：工商信息已核宝br /> 访问量：27842
证：工商信息已核宝br /> 访问量：27842
安柏来科学仪器（上海）有限公号/div>
首页 > 产品中心 > 测厚 > 博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪P系列
产品详情
博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪P系列
产品简今/div>
博曼P系列产品概述９/span>
P系列提供了测量各种样品尺寸，形状和数量的灵活性。它配备了一个高精度可编程XY平台，可在一个固定阶段提供多种便利因素。操作员可以使用鼠标和软件界面轻松移动到所需的测量位置。可以创建多点程序，通过单击按钮自动测量多个样品位置。精确控制可用于测试关键区域。通过多点编程可以获得更大的采样量、/p>
标准配置包括一?位置多准直器组件和一个用于测量凹陷区域的变焦相机。可以为应用定制准直器和焦距。固态PIN探测器随附我们的长寿命微焦点X射线管。SDD检测器是可选的、/span>
博曼P系列可满足以下类型用户的需求：
-小型镀件领域，如紧固件，连接器或PCB
- 需要测试多个样品的多个位置
- 期望在多个样品上实现自动测量
- 样品尺寸和应用经常变匕/span>
- 符合IPC-4552A
博曼P系列产品参数９/span>
类别 |
参数 |
元素测量范围９/span> X射线管： 探测器： 分析层数及元素数９/span> 滤波?准直器： 焦距９/span> 数字脉冲器： 计算机： 相机９/span> 电源９/span> 重量９/span> 马达控制/可编程XY平台９/span> 延伸可编程XY平台９/span> 样品仓尺寸： 外形尺寸９/span> |
13号铝元素?2号铀元素 50 W?0kV?mA）微聚焦钨钯射线箠/span> 190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器 5层， 每层可分?0种元素，成分分析*多可分析25种元紟/span> 4位置一次过滤器/4种规格准直器 可变?/span> 4096 多通道数字处理器，自动死时间和逃逸峰校正 英特尔， 酷睿 i5 3470 处理 (3.2GHz) 8GB DDR3 内存 微软 Windows 10 专业版， 64佌/span> 1 / 4"CMOS-1280720 VGA分辨玆/span> 150W?00-240V，频率范围为47Hz?3Hz 32-50kg 平台尺寸?5"x 13"| 行程?"x 5" 平台尺寸?5"x 25"| 行程?0"x 10" 高度?40mm?.5"），宽度?10mm?2"），深度?35mm?3"（/span> 高度?50mm?8"），宽度?50mm?8"），深度?00mm?4"（/span> |
关于美国博曼９/span>
美国博曼（Bowman）是高精度台式镀层测厚仪供应商，拥有?0年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统，可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素，其中任何两层元素可以是合金。同时，博曼XRF系统也可以测量高熵合金（HEAs）、/span>
- 推荐产品
- 供应产品
- 产品分类