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首页 > 产品中心 > 测厚 > 博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪B系列
产品详情
博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪B系列
产品简今/div>
博曼B系列产品概述９/span>
B系列是博曼的基础机型和常规机型。该型号采用自上而下的测量方式，配备固定样品台可实现手动操作。测量时将样品放入样品仓，通过观察视频图像来对准屏幕上十字线内的位置来完成测量。样品仓采用开槽配置，但没有可编程的XY样品台、/span>
B系列标准配置包括一个固定准直器，一个固定焦距的相机，固态PIN探测器和质量可靠的微聚焦X射线管。与其他型号一样，该型号也可升级为包括多个准直器，可变焦点相机和SDD探测器、/span>
博曼B系列可满足以下类型用户的需求：
- 样品测试量相对较導/span>
- 样品仅需测量一个位?/span>
- 大型线路板镀层的抽检
- 预算有限但希望日后仪器性能能有所提升
- 符合IPC-4552A
博曼B系列产品参数９/span>
类别 |
参数 |
元素测量范围９/span> X射线管： 探测器： 分析层数及元素数９/span> 滤波?准直器： 焦距９/span> 数字脉冲器： 计算机： 相机９/span> 电源９/span> 重量９/span> 马达控制/可编程XY平台９/span> 延伸可编程XY平台９/span> 样品仓尺寸： 外形尺寸９/span> |
13号铝元素?2号铀元素 50 W?0kV?mA）微聚焦钨钯射线箠/span> 190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器 5层，每层可分?0种元素，成分分析*多可分析25种元紟/span> 4位置一次过滤器/单规格准直器 激光固定焦距（可选多焦点（/span> 4096 多通道数字处理器，自动死时间和逃逸峰校正 英特尔， 酷睿 i5 3470 处理 (3.2GHz) 8GB DDR3 内存 微软 Windows 10 专业版， 64佌/span> 1 / 4"CMOS-1280720 VGA分辨玆/span> 150W?00-240V，频率范围为47Hz?3Hz 34kg 不可?/span> 不可?/span> 高度?40mm?.5"），宽度?10mm?2"），深度?35mm?3"（/span> 高度?50mm?8"），宽度?50mm?8"），深度?00mm?4"（/span> |
关于美国博曼９/span>
美国博曼（Bowman）是高精度台式镀层测厚仪供应商，拥有?0年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统，可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素，其中任何两层元素可以是合金。同时，博曼XRF系统也可以测量高熵合金（HEAs）、/span>
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