C11011-01W微米膜厚测量仪_报价-滨松光子学商贸（中国）有限公号�/title>

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型号	C11011-01W
可测膜厚范围（玻璃）	25 ��m to 2900 ��m^*1
可测膜厚范围（硅（�/td>	10 ��m to 1200 ��m^*2
测量可重复性（硅）	100 nm^*3
测量准确度（硅）	< 500 ��m: ��0.5 ��m� > 500 ��m: ��0.1 %^*3
光源	红外LED�?300 nm（�/td>
光斑尺寸	��60 ��m^*4
工作距离	155 mm^*4
可测层数	一层（也可多层测量（�/td>
分析	峰值探浊�/td>
测量时间	22.2 ms/炸�sup>*5
外部控制功能	RS-232C / PIPE
接口	USB2.0
电源	AC100 V to 240 V� 50 Hz/60 Hz
功耖�/td>	50W

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数字切片扫描仪NanoZoomer-SQ

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