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XB1152 测试平台

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品牌９�/td>	芯晖装备
产地９�/td>	浙江
关注度：	337
型号９�/td>	XB1152 测试平台

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产品介绍

1. 非易失存储器晶圆级BIST测试平台、�br style="padding: 0px; margin: 0px; box-sizing: border-box; color: rgb(102, 102, 102); font-family: sysong; text-wrap: wrap; background-color: rgb(255, 255, 255);"/>2. 通过提高并行测试数量，缩小测试机外形体积等设计显著降低了测试成本（COT）、�br style="padding: 0px; margin: 0px; box-sizing: border-box; color: rgb(102, 102, 102); font-family: sysong; text-wrap: wrap; background-color: rgb(255, 255, 255);"/>3. 搭配具有12个测试单元的一体prober使用，节省大量的设备占用空间、�br style="padding: 0px; margin: 0px; box-sizing: border-box; color: rgb(102, 102, 102); font-family: sysong; text-wrap: wrap; background-color: rgb(255, 255, 255);"/>4. 成熟的自动控制系统实现自动化测试、�br style="padding: 0px; margin: 0px; box-sizing: border-box; color: rgb(102, 102, 102); font-family: sysong; text-wrap: wrap; background-color: rgb(255, 255, 255);"/>5. 高MTBF，低MTTR、�br style="padding: 0px; margin: 0px; box-sizing: border-box; color: rgb(102, 102, 102); font-family: sysong; text-wrap: wrap; background-color: rgb(255, 255, 255);"/>6. 全球装机量超�?000台、�/p>

应用场景	NAND/NOR Flash
Test Speed	同测数高辽�/span>1152�?/span>DUTS
Image Capture Speed	每个DUT分配独立�?个pins, 2 DR pins + 1 I/O pin + 1 Power Pin
工作频率	20 MHz
电源范围	0 ~ 4 V 200 MA 每个DUT