仪器简介：

应用�

� 硅外延层的CV测试�

� 半导体器件及化合物半导体（GaAs/SiC）的CV/IV测试、�/p>

技术参数：

SSM公司的汞探针CV测试设备是半导体器件、化合物半导体（GaAs/SiC）行业的标准设备，行业占有率超过９０％。其多项**技术保证了测试的高精确性及重复性、�/p>

主要特点９�/strong>

� 高精度和准确性的参数测试(Qeff� Qot� Fbd� Vbd� K...)�

� 在半导体和化合物半导体（GaAs/SiC）行业超过９０％的市场占有率�

� 高重复性（<1%）；

� 非破坏性；

� 双重的filer保护系统确保Hg的使用安全、�/p>