产品性能:

少子寿命测试仪性能参数�

测量原理� QSSPC（准稳态光电导）；

少子寿命测量范围� 100 ns-10 ms：�/p>

测试模式：QSSPC，瞬态，寿命归一化分析；

电阻率测量范围： 3�?00 (undoped) Ohms/sq.：�/p>

注入范围�?0¹³-10¹⁶cm^-3：�/p>

感测器范围： 直径40-mm：�/p>

测量样品规格 标准直径: 40�?10 mm （或更小尺寸）；

硅片厚度范围� 10�?000 ��m：�/p>

外界环境温度� 20��C�?5��C：�/p>

功率要求� 测试�? 40W� 电脑控制器：200W ，光源：60W：�/p>

通用电源电压� 100�?40 VAC 50/60 Hz：�/p>

主要特点:

　　适应低电阻率样片的测试需要，*小样品电阻率可达0.1ohmcm

　　全自动操作及数据处理

　　对太阳能级硅片，测试前一般不需钝化处理

　　能够测试单晶或多晶硅棒、片或硅�?/p>

　　可以选择测试样品上任意位�?/p>

　　能提�?*的表面化学钝化处理方泔�/p>

　　对各道工序的样品均可进行质量监控９�/p>

　　硅棒、切片的出厂、进厂检�?/p>

　　扩散后的硅片

　　表面镀膜后的硅片以及成品电江�/p>

少子寿命测试�?/strong>

技术参数：

FAQ:

用途、光伏，硅片检浊�/p>

包装、纸质包裄�/p>

售后服务:一年保修，终身维护

用途、光伏测诔�/span>

包装、纸质包裄�/span>

售后服务

一年保�