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MiPLATO-SiC晶圆缺陷检测系统图牆/div>
本图片来自HORIBA（中国）提供的MiPLATO-SiC晶圆缺陷检测系统，型号为MiPLATO-SIC的HORIBA测量/计量仪器，产地为北京，属于品牌，参考价格为面议，公司还可为用户供应高品质的PLATO系列全自动光致发光成像系统、PLATO-MicroScan微区光致发光扫描成像系统等产品。HORIBA（中国）是中国粉体网的白金会员，合作关系长达20年，工商信息已通过人工核验，获得粉享通诚信认证，请放心选择?/p>
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