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产品详情
二次离子/溅射中性粒子质谱仪
产品简今/div>
MAXIM二次离子溅射中性粒子质谱仪可分析二次阴、阳离子动态和中性粒子，所具备的的30接受角可形成样品粒子平面，应用于SIMS咋/span>SNMS的光学采样、/span>
光栅控制，增强深度分析能劚/span>所有能量范围内，离子行程的*小扰动，及恒定离子传辒/span>灵敏度高/稳定的脉冲离子计数检测器
质量数范围：300amu＋/span>500amu＋/span>1000amu
检测器９/span>离子计数探测器、正负离子探测器?/span>107cps
质量过滤器：3F四级杅/span>
杆直径：9mm
**加热９/span>250ℂ/span>
离子源：电子轰击，可用于SNMS咋/span>RGA的单根灯东/span>
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