北京英格海德分析技术有限公号/div>
首页 > 产品中心 > 质谱检测分析仪 > Hiden SIMS Workstation二次离子质谱?/div>
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仪器简介:

1. 适合做多层薄膜的深度分析、/p>

2. 很好的、耐用的、普通目的的二次离子质谱仪、/p>

3. 方便使用、/p>

4. 样品可以手动转换,由于分析速度快所以每天可以分析一定数量的样品、/p>

5. 我们的系统可配置快速原子枪,使我们可以轻松处理绝缘的样品、/p>

6. 我们还可以做元素成像(就象化学地图)和混合模式扫描,自动测量正、负和中性粒子、/p>

7. 我们的系统是典型的超高真空工作台,很容易满足很多其它分析的使用、/p>

结构紧凑,但不损失性能。真正的高性价比、/p>

技术参数:

质量数范围:300?10?000amu

分辨率:5%的谷,两个相连的等高峰、/p>

检测器:离子计数检测器,正、负离子检浊/p>

检测限?:10E7

质量过滤器:三级过滤四极杆(9mm杆)

主离子枪 A,氧离子或其它气体,能量?KeV

B,Ga离子枪,能量25KeV(选配(/p>

空间分辨率:A?00?50um

B: 50nm

取样深度?个单分子层(静态)

不受限制(动态)

主要特点9/strong>

? 高灵敏度脉冲离子计数检测器?个数量级的动态范

? SIMS 成像,分辨率在微米以

? 光栅控制,增强深度分析能

? 所有能量范围内,离子行程的*小扰动,及恒定离子传

? 差式?级过滤四极杆,质量数范围?000amu

? 灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器

? Penning规和互锁装置可提供过压保

? 通过RS232、RS485或Ethernet LAN,软 MASsoft控制

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