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1. 非易失存储器晶圆级BIST测试平台、br style="padding: 0px; margin: 0px; box-sizing: border-box; color: rgb(102, 102, 102); font-family: sysong; text-wrap: wrap; background-color: rgb(255, 255, 255);"/>2. 通过提高并行测试数量，缩小测试机外形体积等设计显著降低了测试成本（COT）、br style="padding: 0px; margin: 0px; box-sizing: border-box; color: rgb(102, 102, 102); font-family: sysong; text-wrap: wrap; background-color: rgb(255, 255, 255);"/>3. 搭配具有12个测试单元的一体prober使用，节省大量的设备占用空间、br style="padding: 0px; margin: 0px; box-sizing: border-box; color: rgb(102, 102, 102); font-family: sysong; text-wrap: wrap; background-color: rgb(255, 255, 255);"/>4. 成熟的自动控制系统实现自动化测试、br style="padding: 0px; margin: 0px; box-sizing: border-box; color: rgb(102, 102, 102); font-family: sysong; text-wrap: wrap; background-color: rgb(255, 255, 255);"/>5. 高MTBF，低MTTR、br style="padding: 0px; margin: 0px; box-sizing: border-box; color: rgb(102, 102, 102); font-family: sysong; text-wrap: wrap; background-color: rgb(255, 255, 255);"/>6. 全球装机量超?000台、/p>
| 应用场景 | NAND/NOR Flash |
| Test Speed | 同测数高辽/span>1152?/span>DUTS |
| Image Capture Speed | 每个DUT分配独立?个pins, 2 DR pins + 1 I/O pin + 1 Power Pin |
| 工作频率 | 20 MHz |
| 电源范围 | 0 ~ 4 V 200 MA 每个DUT |
暂无数据
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