激光粒度仪、Zeta电位分析仪供应商:北京海鑫瑞科技有限公司入驻粉享通


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[导读]北京海鑫瑞科技有限公司主要生产、研发、销售、售后一体化的可靠性测试、品质分析检测设备。


公司介绍

北京海鑫瑞科技有限公司主要生产、研发、销售、售后一体化的可靠性测试、品质分析检测设备。拥有一支忠诚稳定、技术精湛的开发、制造、检测队伍。为高校、研究所以及企业(材料、食品、污水及环境)检测提供检测设备及分析。


北京海鑫瑞科技有限公司由从事科学实验仪器分析设备行业经验丰富的海归博士创办而成,公司拥有一批精密测量技术领域的技术人才。其工厂坐落于北京市怀柔区,营销中心位于北京市海淀区中关村。致力于为全国各大高校以及科研院所和企业提供服务。


公司从成立初,就以“仪器精,方能通天下。服务诚恳,方能赢四海。”为口号。


就仪器精密度,要做到行业内佼佼者。

就售后服务,要做到24小时响应,48小时到位。

就技术而言,北京海鑫瑞科技有限公司一直在专研纳米级颗粒的测量。


含颗粒度测量、表面处理技术、表面积分析、形貌特征观察等领域。真正做到准确性、重复性达前沿水平。


公司主要经营生产:激光粒度仪、颗粒图像仪、真密度、比表面及孔径测试仪、高压吸附仪、化学吸附分析仪等9种物理分析设备。目前在广州、上海、青岛、西藏、天津均设有办事处。


北京海鑫瑞科技有限公司目前在不断扩大领域和队伍,是一家高速发展新型的技术型企业。目前客户遍布全国各地,如知名高校:北京大学、清华大学、北京交通大学、北京科技大学等。知名企业如中国石化、中国石油、华北药业等。




部分产品介绍




1.多功能智能纳米激光粒度仪



产品介绍:


Nano9200 系列多功能智能纳米激光粒度仪用于测量颗粒粒度与Zeta电位 。纳米颗粒由于粒径十分细小,其表面的晶体结构发生变化,从而在电学、光学和化学活性等方面表现出自身的性能。粒径大小是表征纳米材料性能的主要参数,准确了解颗粒粒度是控制纳米材料性能的关键。Zeta电位是表征胶分散系稳定性的关键参数,Zeta电位越高,胶体就越稳定,反之,Zeta 电位越低,胶体稳定性就越差,通过测量和调整胶体的Zeta电位,就可以控制其稳定性。因此,Nano9200系列纳米粒度及Zeta电位分析仪广泛应用于产品开发、生产、质量控制以及科学研究。


特点:


(1)背散射光路:使用背散射光路接收散射光,减小散射光程,减弱多次散射光,进而可以测量高浓度样品的颗粒粒度。

(2)大动态范围高速光子相关器:采用高速、低速通道搭配的光子相关器,有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾,实时获取动态范围大、基线稳定的相关函数。

(3)剔除灰尘干扰:引入分位数检测异常值的方法,鉴别受灰尘干扰的散射光数据,并剔除异常值,提高粒度测量结果的准确性。

(4)多角度数据反演:从多个不同的散射角度采集散射光强,可以获得更多的颗粒粒度信息,并将多个自相关函数结合到一个数据分析中,提供高分辨率且与角度无关的粒度测量结果。

(5)温度趋势分析:按照设定的温度范围,自动进行粒度和Zeta电位测量,检测样品粒度或Zeta电位的温度趋势。

(6)超微量样品池:超微量毛细管样品池,样品量低至3?L,且由于光程短,可减弱多次散射光,能显著提升样品浓度上限。

(7)标准化操作(SOP):软件具有标准化操作功能,让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行,测量结果更具可比性。

(8)智能化测量:自动调整散射光强,自动优化光子相关器参数,自动设置测量参数,以适应不同样品,让测量变得轻松愉快。

(9)法规软件:软件符合FDA 21 CFR Part 11的要求,可设置/修改用户组的访问权限,具有电子记录/电子签名和审计跟踪功能,符合制药企业的法规要求。


应用范围:



2.纳米激光粒度及zeta电位分析仪



Zeta电位测量的性能特点:

(1)利用光纤将发射光路和接收光路集成在一起,替代传统电泳光散射装置的光路,利用光纤传输参考光和散射光信号,使光信号不易受灰尘和外界杂散光的干扰,有效地提高了信噪比和抗干扰能力。
(2)先对散射光信号进行频谱估计,获取需要细化分析的频谱范围,然后使用线性调频变换频谱细化算法在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析,从而获得准确的散射光频移,Zeta电位测量范围达到-600mV~+600mV。
(3)利用拟合算法获得jingque的Henry函数表达式,基于双电层理论模型,求解颗粒的双电层厚度,从而获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值,进而有效提高了Zeta电位的计算精度。


应用:

  • 药品和工业用乳胶表面重整控制;

  • 表面活性剂功能分析与研究;

  • 纸浆添加剂性能研究;

  • 电解聚合物功能分析;

  • 蛋白质功能分析与研究;

  • 食品、香水、药品和化妆品等乳剂的分散和凝聚控制;

  • 核糖体分散和凝聚控制研究。


3.比表面及孔隙率分析仪



产品介绍及原理:


JT-2000P2比表面及孔隙率分析仪是一种用于测量固体材料的比表面积和孔径分布的物理性能测试仪器,它主要通过气体吸附法来测定材料的比表面积和孔隙率,适用于粉体与颗粒等各类固体材料。



比表面及孔隙率分析仪采用一体化设计,即脱气模块集成于仪器主机上,为实验室减少大量空间;同时其脱气模块和分析模块又相互独立,具有独立的气路系统、检测系统和真空系统,可以同时运行,互不影响,提高质量控制分析的检测速度;每个分析口配备独立压力传感器,保证数据的一致性和稳定性;独立的饱和蒸气压探测系统,在分析过程中实时监测饱和压力,保证数据的准确性。


产品特点:


  • 拥有2个样品分析口,可同时进行2个样品分析,1个P0测试位。

  • 具有真密度测试功能。

  • 脱气位和分析位一体化设计,并拥有独立的真空系统和气路系统。

  • 不均匀且易损的软式加热包,复合材料加热炉升温速率线性可调,控温精度高,并且具有防烫设计。

  • 每个分析口配置独立进口压力传感器,数据一致性高。

  • 引入死体积动态校准技术,解决液氮挥发对体积定量的影响。

  • 气路控制系统应用真空抽气动态调速技术(I-PID)。

  • 可选配嵌入式等温夹套,进行0℃-60℃的气体等温吸附测试。


4.蒸气吸附仪(单站、多站)



全自动蒸气吸附仪仪器主要构成,真空恒温恒湿箱体,内置定制微型天平,该天平具有一定的密封性,可以在一定相对湿度下正常工作,保持稳定性,外观比现有万分之一克天平更小,大于磁悬浮微天平,真空恒温恒湿箱体采用微天平通过支撑件与坩埚连接,距离大于5cm,加热区位于坩埚区域,温度加热到100℃,真空真空度10-2PA,抽真空和进气都加有缓冲罐,并严格控制抽气和进气速度,加热采用进口程序升温PID温控仪,R485与电脑通讯,这样避免样品发生飞溅现象;蒸汽发生器、管路均采用不锈钢材质,加热采用四路PID温控仪,R485与电脑通讯,控制端口使用主板I/O控制,压力传感器使用主板AD采集;微天平使用真空电极进行供电,R485采集信号。


技术特点:


  • 结合了微天平、气体流动和蒸汽的测量技术的优势;

  • 使用干燥的载气,通常为氮气,可以选择任何两个蒸汽源中的一个;

  • 质量流量控制和dute的水和有机蒸汽浓度实时监控结合可以精确控制饱和干燥载气流量的比例;

  • 整个体系的温度可以由选择,并且在闭合环条件下可以精确控制,以保证吸附质的蒸汽压恒定;

  • 具有极其高的灵敏度和精确度,仅需少量的样品(通常1-30mg),因而可快速达到平衡;

  • 全自动惰气吹扫装置和有机泄露检测器可在发生有机蒸气泄漏时关闭联锁装置,保证安全;

  • 软件可程序控制仪器,用户界面友好,满足数据完整性和安全性的标准;

  • 待测样品置于微量天平上,已知浓度的蒸汽通过样品,记录式微天平可以测量由蒸汽吸附或脱附引起的质量变化。这种动态流动环境易于快速研究吸附/脱附过程。如果进一步实验选择需要,样品可以首先预热,这样可以加速体相吸附或者无机氧化物干燥过程的分析循环时间。加热过程可独立进行或通过软件来控制升温速率。


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