芯德半导体TGV技术取得突破性进展


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[导读]芯德半导体晶圆级Glass Interposer 2.5D扇出型封装技术取得突破

www.188betkr.com 讯在后摩尔时代,半导体工艺正逐步逼近物理极限,芯片性能提升遭遇前所未有的严峻挑战。在此背景下,2.5D/3D封装技术凭借对芯片集成效率的显著提升,成为延续摩尔定律的核心关键路径。而中介层作为连接不同芯片、实现数据高效传输的核心“桥梁”,其性能表现与成本控制,直接决定了先进封装技术的产业化推进速度与应用规模。

当前传统中介层方案存在明显短板,难以兼顾性能与成本的平衡。其中,硅基中介层虽在电气性能、互连密度上表现优异,但其制造成本居高不下,占封装总成本比例超30%,且复杂的制造工艺进一步限制了其大规模应用。另一主流方案有机中介层虽成本优势显著,但存在高频信号损耗大、热膨胀系数与芯片不匹配、易发生翘曲变形等问题,无法满足高密度互连场景下的性能需求。

在传统中介层方案难以突破瓶颈的背景下,基于TGV(玻璃通孔)技术的玻璃基中介层凭借多维度优势脱颖而出。它不仅具备极低的高频信号损耗、与芯片接近的热膨胀系数和优异的机械强度,还在成本控制上展现出显著竞争力,完美解决了传统方案“性能与成本不可兼得”的痛点,成为支撑下一代先进封装技术发展的核心材料。

近期,芯德半导体与东南大学史泰龙团队联合研发的晶圆级Glass Interposer 2.5D扇出型封装技术取得突破性进展,相关技术指标精准达成封装设计需求。


产品封装设计结构图 来源:芯德半导体

本次流片的首颗样品是面向AI加速芯片的2.5D集成模块,该模块架构强大,包含1颗采用7nm工艺的国产GPU核心、4颗单颗带宽超460GB/s的HBM2E存储芯片,以及厚度为400μm的Glass Interposer互连层,为高性能AI计算提供了坚实的硬件支撑。

产品实物外观图 来源:芯德半导体

从仿真数据来看,该技术优势显著,在相同频率下,TGV互连结构的插入损耗均小于传统TSV(硅通孔),即便比特率增加导致眼图指标大部分恶化,TGV的指标仍优于TSV。

TGV样片SEM特征图 来源:芯德半导体

具体而言,这项技术在四大关键领域实现突破:其一,高精度TGV工艺,成功实现直径62.5μm的微孔加工,深宽比达7:1,互连密度较传统方案提升3倍;其二,超细线路RDL(再布线层),线宽/线距≤2μm,支持10?I/O/mm?的高密度互连,完美满足HBM(高带宽存储器)集成需求;其三,低翘曲晶圆级封装,通过材料优化与低温键合技术,将300mm晶圆翘曲控制在<50μm,良率突破97%,大幅提升生产稳定性与经济性;其四,射频性能优化,玻璃介电损耗(Df)可低至0.004@10GHz,除了适用于AI、HPC 领域,还能满足5G毫米波、光通信等高频应用场景需求。

作为这项突破性技术的主导者之一,芯德半导体实力雄厚。公司自2020年9月成立以来,专注于中高端封装测试领域。目前,可为客户提供丰富的封装产品设计和服务,涵盖Bumping、WLCSP、Flip Chip PKG、QFN、BGA、SIP、SIP-LGA、2.5D等多种封装类型。

此次TGV技术的突破性进展,进一步彰显了芯德半导体在先进封装领域的技术实力与创新能力,有望推动国内高端封装产业加速发展,助力我国在全球半导体竞争中占据更有利地位。

参考来源:

芯德半导体官网

(www.188betkr.com 编辑整理/月明)

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