建筑工程仪器
LINT-208G型手动平面度测试?/p>
国产建筑工程仪器
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一．仪器特炸/p>
该仪器利用美国进口的先进高精度激光源进行设计，利用激光干涉方法对 WAFER 的平整度进行测量。该机器可广泛适用于对如下材料的晶片平整度测量：碳化硅、砷化镓、氮化镓、钽酸锂/铌酸锂、蓝玻璃、硅、锗、蓝宝石、陶瓷、石英、手机面板玻璃等，材料可以是透明体或不透明体、/p>
本机可以测量的重要参数包括：TTV、TIR、WARP、BOW、LFPD、TAPER、LTIR、LTV、PLTV、PLTIR、PLFPD、LTV(AVG)等共 12 个、/p>
二、仪器性能及技术参数：、/p>
2.1 适用范围
可用于测量工件尺寸为 Φ2---Φ8（INCH）直径的圆型晶片（方形晶片测量可以定制）
2.2 测量精度
重复性精度： 0.03μm 测量精度?.075μm
分辨率： 0.005μm 像素点数 ?50000
三、仪器外形参数及使用环境要求
3.1、激光干涉仪外形参数(参见图二) 外形尺寸（高*?厚）?30*650*780(MM) 仪器重量?5KG
3.2 电器控制柜外形参数：
外形尺寸（高*?厚）?70*510*400（MM 控制柜重量：15KG
3.3 环境要求９/p>
电源?20V/50HZ/10A 功率：≦1.5KW
气源：使用超净工业压缩空气或氮气（Φ8mm 管径 气压：≥0.5MPA
用气量：4M3/H
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