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美国SVT衬底温度速率测量?工艺监控? /AccuTemp
产品简今/div>

AccuTemp(In-Situ 4000)工艺监控仪可以闭环监控与控制多层薄膜生长、/span>

用于MBE?/span>MOCVD以及CIGS等系统中、/span>

AccuTemp提供实时、准确的工艺信息,包括衬底温度、薄膜厚度、生长速率、/span>

该仪器放置在一个观察窗上、/span>

采用双色红外高温测量仪测量温度,该测量仪对观察窗口的附着物不敏感,还可以校准误差、/span>

另一部件辐射仪,用来补偿发射率的变化,纠正高温测量仪的温度测量值、/span>

Bandgap模块可选,它可以监控很低的衬底温度,还可以进行高温测量仪的简单校准。两个独立的光学反射信号用于分析并实时提供厚度、生长速率及折射系数、/span>

典型应用

AccuTemp典型应用亍/span>GaN+/span>GaAs+/span>ZnO+/span>CIGS+/span>Si+/span>ZnTe+/span>SiC+/span>MCT以及STO、/span>

AccuTemp既可用于研究型设备也可用于生产型设备、/span>

Bandgap模块可以佾/span>IS4K测量低于高温计范围的材料温度,例如在生长GaAs?/span>GaSb叉/span>Si材料时可以使用、/span>

特点

◎/span>一个窗口就可以同时、实时测量温度和厚度

◎/span>采用双波长用于穿过窗口涂层,进行透明度补偾/span>

◎/span>采用发射率补偿,提供真实温度

◎/span>闭环控制

◎/span>Bandgap模块用于低温测量和校凅/span>

高温仪温度范図/span>

450oC- 1?00oC

Bandgap模块

室温 - 700oC

衬底材料

Si GaAs InP 蓝宝石,STO,Gasb,MCT

辐射仪波镾/span>

950?50nm

噪声等效温差

<0.5oC

反射仪波

950?70nm

噪音等效厚度?/span>

<1nm @ film>100nm

靶距离范図/span>

>7mm

测量斑点大小

1KW-5KW

观察窖/span>

2.75''CF(4.5''CF如果带边)

尺寸

100140130mm

对正方法

视频监控?/span>

计算机要汁/span>

Windows XP+/span> 序列端口界面

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